靜電是一種常見的應用提升、自然發(fā)生的現(xiàn)象更加堅強，但在研究實驗室中形式，包括在分析稱量過程中活動上，它可以產(chǎn)生各種有害的影響。靜電會對稱量過程本身或結(jié)果產(chǎn)生不利影響範圍，它們不僅會導致絕對重量不準確求得平衡，還會導致漂移和重復性差，從而影響數(shù)據(jù)質(zhì)量空間廣闊，因此需要耗費時間的材料選擇或處理程序來應對這些問題至關重要。

帶有集成靜電中和技術的分析天平可以解決靜電煩惱，并確保各種分析稱重應用的準確性服務品質，是一種緊湊且有效的解決方案技術發展。Cubis® II 分析天平和半微量天平集成了電荷中和技術，以實現(xiàn)準確的稱量性能深入開展。

靜電荷是如何形成的

電子逸出功是指一個電子離開金屬表面所需的能量更為一致。兩個物體之間的摩擦會引發(fā)離子形成，因此電子逸出功較低的物質(zhì)很容易給電子逸出功較高的物質(zhì)提供電子技術的開發。在稱重過程中研究與應用，樣品內(nèi)部或樣品與容器或皮重容器之間存在摩擦，會產(chǎn)生靜電更高效。

靜電荷對分析稱重的影響

待稱重物質(zhì)與天平固定部位相互作用全面協議，因該部位與稱重盤（包括通風罩或底板）沒有導電連接，所以導致物質(zhì)表面電荷積聚具體而言，進而產(chǎn)生靜電力工具。這些靜電力可能會產(chǎn)生虛假絕對重量（即與實際重量顯著偏離），并影響稱重精度喜愛。當電荷通過稱量盤消散時重要的角色，靜電力的變化會導致漂移，從而產(chǎn)生不一致的結(jié)果并降低重復性向好態勢。

如果稱重容器和環(huán)境都帶負電平臺建設，那么所產(chǎn)生的排斥力會將施加在天平上，從而產(chǎn)生比實際重量更重的虛假絕對重量貢獻力量。如果稱重容器和環(huán)境的電荷相反使用，所產(chǎn)生的吸引力將產(chǎn)生比實際重量更輕的虛假絕對重量。

靜電中和技術

賽多利斯 Cubis® II 采用了集成的電荷中和技術發行速度，可有效去除樣品和容器中的電荷更加堅強，從而實現(xiàn)更精確的分析稱重。